Einem internationalen Forscherteam unter der Leitung des Paul-Scherrer-Instituts (PSI) ist ein Durchbruch in der Röntgenmikroskopie gelungen. Mittels einer innovativen Methode namens Ptychografie konnten sie dreidimensionale Bilder von Computerchips mit einer beispiellosen Auflösung von nur vier Nanometern erstellen.

Diese bahnbrechende Entwicklung eröffnet völlig neue Möglichkeiten in der Halbleiterindustrie. Durch die detaillierte Analyse der winzigen Strukturen auf Mikrochips können Forscher und Entwickler noch leistungsfähigere und effizientere Computerchips entwerfen. Dies könnte zu einem Quantensprung in der Rechenleistung und Energieeffizienz von elektronischen Geräten führen.

Was ist Ptychografie?
Die Ptychografie ist ein fortschrittliches Verfahren der Röntgenmikroskopie, das es ermöglicht, dreidimensionale Bilder von Objekten mit extrem hoher Auflösung zu erstellen. Im Gegensatz zu herkömmlichen Methoden liefert die Ptychografie nicht nur Informationen über die Oberfläche eines Materials, sondern erlaubt auch Einblicke in dessen innere Strukturen.

Ein interdisziplinäres Team
Der Erfolg dieses Projekts ist das Ergebnis einer engen Zusammenarbeit zwischen dem PSI, den Eidgenössischen Technischen Hochschulen in Zürich und Lausanne sowie der University of Southern California. Die interdisziplinäre Expertise der beteiligten Wissenschaftler war entscheidend für die Entwicklung dieser neuen Technologie.

Ausblick
Die Anwendung der Ptychografie ist nicht auf die Halbleiterindustrie beschränkt. Auch in anderen Bereichen wie der Materialwissenschaft und den Biowissenschaften birgt diese Technologie grosses Potenzial. Durch die detaillierte Untersuchung von Materialien auf atomarer Ebene können neue Erkenntnisse gewonnen und innovative Anwendungen entwickelt werden. Der von den Schweizer Forschern erzielte Weltrekord in der Röntgenmikroskopie ist ein wichtiger Meilenstein auf dem Weg zu noch leistungsfähigeren Technologien. Die Ptychografie eröffnet neue Perspektiven in der Materialforschung und der Entwicklung von elektronischen Geräten.

Foto/Video: Paul Scherrer Institut PSI